世通仪器检测服务有限公司占地6亩，实验室面积达1200平方米。校准源齐全，拥有福禄克、惠普、安捷伦、菊水、新天等大批进口国产高端仪器，覆盖校准检测范围广。
佛山仪器校验中心
单芯片雷达收发器的简图雷达传感器的应用迄今为止，单芯片雷达的应用领域是汽车安全。雷达成为大多数汽车中先进驾驶辅助系统(advanceddriver-assistancesystems，ADAS)的核心。自适应巡航控制、自动刹车、后备箱物测、盲点检测、变道辅助、来车警告系统都采用了雷达技术。目标是减少驾驶员失误，从而减少车祸次数和伤亡人数。目前为止，上述目标正在实现。事实上，这些新的子系统非常有效，因此正在强制所有汽车安装先进驾驶辅助系统。
中心设有:力学、长度、衡器、电学、电磁、热工、几何量、轻工物性等 校准检测实验室。本校准与检测中心可对以上类别范围的各国仪器和相关产品进行校准和检测并出具认可的校准证书或检测报告。
轻工产品检测中心拥有各类先进检测仪器一百余台。
产品检测范围为：对各种类成品鞋、鞋材、s1ty4lq<y7jfc皮革、纺织、箱包、车、五金制品、包装、纸等轻工产品的物理性能进行检测。可为客户以上类别的产品进行检测和服务，并出具有效相关产品检测证书。
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如果在水平偏转板加上一个锯齿波电压的同时，在竖直偏转板加上一个周期性变化的电信号，电子束在水平匀速的同时还在竖直方向随周期性电信号的变化而，荧光屏上将显示出加在竖直偏转板上的电信号的变化规律——波形。当竖直方向电信号的周期与水平方向锯齿波电压的周期相同或为其整数倍，荧光屏上的图形将通过一次次的扫描得到同步再现，从而显示出竖直方向电信号稳定的波形。荧光屏上的a″点对应于Y轴上所加电压的a点和X轴上所加电压的a′点，依此类推，荧光屏上的光点正好描绘出Y轴上的电压随时间的变化规律。
长度计量校准实验室：量传历史长、标准设备全、检测维修能力强的实验室，本室共建有量块、平直度、粗糙度、光学仪器、测绘仪器、通用量具、精密测量、三坐标测量机、圆度仪、验光标准器组等共55项社会公用计量标准，负责本地区的几何量的量值传递，检测和校准服务，展各项目计量仪器的检定、校准、修理。
展的检定／校准项目： 量块、平晶、干涉仪、测长仪、经纬仪、水准仪、测厚仪、坐标测长机、光学计、投影仪、影像测绘仪、工具显微镜、电动轮廓仪、气动量仪、偏摆仪、测微仪、液塑限测定仪、直角尺检定仪、百分表检定仪、千分表检定仪、量仪测力仪、水平仪检定器、水平仪零位检定器、测量显微镜、读数显微镜、金相显微镜、光学平直仪、水平尺、电子水平仪、合象水平仪、框式水平仪、平板、平尺、宽座角尺、口尺、线纹钢直角尺、角尺、卡尺、千分尺、指示表、内径表、杠杆表、数显表、钢卷尺、钢直尺、塞尺、工程检测尺、方箱、环规、螺纹量规、表面粗糙度样块、半径样板、螺纹样板、滑板式汽车侧滑检验台、轮偏检测仪、线缆计米器、线速激光测径。对有关长度、角度、粗糙度、平面度、线纹、端度、形状与相互位置的量值进行校准。
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市场上有多种信号源。尽管有各种各样的选择，但大多数信号源都是输出信号地线和机壳大地共地。非隔离信号源不能用于桥式整流、倍压整流和斩波器的测试中。为什么不能呢？在桥式整流电路下我们对非隔离信号源和隔离通道信号源（MFG-2000或AFG-3000）进行了以下比较。首先，我们必须知道正弦波经桥式全波整流后输出的理想波形，如下所示：大多数电子产品需要直流电给其内部组件供电。除电池供电的小型产品外，大多数电子设备需要电源或通过整流器和滤波器从A.C.转换成不同的稳定D.C.电压。
公司主营：内校员培训，仪器检测，仪器校准，仪器外校，仪器计量，仪器校正，仪器校验，工厂仪器校准，工厂仪器检测，试验设备检测，试验设备计量，实验室仪器校准，实验室仪器检测。全国各地均可安排检测。
世通今年将在西安实验室，为的就是更方便服务周边的客户，世通检测公司在计量行业遥遥，技术 ，服务好，价格实惠，有很多知名企业都与我公司合作的。
检测公司能检范围特别广，大项多达八百项，小项几千项，各类工厂用到的仪器设备，我司都可以校准，校正，认可的有效证书报告，可以通过客户审厂验厂以及3C，UL等等认证
佛山仪器校验中心半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。